Mgr inż. Michał Ołowski

Zainteresowania badawcze: biometria, uczenie maszynowe

Członek Zakładu Biometrii w NASK. Jest absolwentem fizyki technicznej na Politechnice Warszawskiej. Prowadzi badania i prace w obszarze rozpoznawania tożsamości i sposobów na jej fałszowanie, z wykorzystaniem technik uczenia maszynowego, ze szczególnym uwzględnieniem technik deepfake. Autor i współautor materiałów popularnonaukowych i dydaktycznych w tematach związanych ze sztuczną inteligencją, wizją komputerową i biometrią. Jest doktorantem w Szkole Doktorskiej TIB PAN.

Wybrane publikacje

Artykuły

Adrian Kordas, Ewelina Bartuzi-Trokielewicz, Michał Ołowski, Mateusz Trokielewicz, "Synthetic Iris Images: A Comparative Analysis between Cartesian and Polar Representation", Sensors, 24(7), 2024, 2269.