Mgr inż. Michał Ołowski

Zainteresowania badawcze: biometria, uczenie maszynowe

Członek Zakładu Biometrii w NASK. Jest absolwentem fizyki technicznej na Politechnice Warszawskiej. Prowadzi badania i prace w obszarze rozpoznawania tożsamości i sposobów na jej fałszowanie, z wykorzystaniem technik uczenia maszynowego, ze szczególnym uwzględnieniem technik deepfake. Autor i współautor materiałów popularnonaukowych i dydaktycznych w tematach związanych ze sztuczną inteligencją, wizją komputerową i biometrią. Jest doktorantem w Szkole Doktorskiej TIB PAN.

Wybrane publikacje

Artykuły

Joanna Gajewska, Alicja Martinek, Michał J. Ołowski, Ewelina Bartuzi-Trokielewicz, "Voice synthesis in Polish and English - analyzing prediction differences in speaker verification systems", Proceedings of the 31st International Conference on Computational Linguistics, , 2025, 9618–9629.
Adrian Kordas, Ewelina Bartuzi-Trokielewicz, Michał Ołowski, Mateusz Trokielewicz, "Synthetic Iris Images: A Comparative Analysis between Cartesian and Polar Representation", Sensors, 24(7), 2024, 2269.