Dr inż. Ewelina Bartuzi-Trokielewicz

Zainteresowania badawcze: biometria, przetwarzanie obrazu, DeepFake

Ekspertka w dziedzinie biometrii i uczenia maszynowego, doktor nauk technicznych, absolwentka Politechniki Warszawskiej. Od 2016 pracuje w NASK w Zakładzie Biometrii, od 2024 kieruje Zakładem Analiz Audiowizualnych i Systemów Biometrycznych. Ewelina prowadzi prace naukowe nad metodami rozpoznawania tożsamości ze szczególnym uwzględnieniem biometrii tęczówki, twarzy oraz linii dłoni, a także nad wykrywaniem ataków prezentacyjnych. Dodatkowo zajmuje się metodami widzenia komputerowego, wykrywaniem deepfake’ów, anomalii na zdjęciach, detekcją obiektów i ich śledzeniem. Jej zainteresowania badawcze obejmują szeroko pojęte computer vision i przetwarzanie obrazu – ekstrakcja cech, wykrywanie obiektów, segmentacja obiektów, klasyfikacja zdjęć. Jest autorką kilkunastu artykułów naukowych w wydawnictwach krajowych i zagranicznych.

Wybrane publikacje

Artykuły

Ewelina Bartuzi, Mateusz Trokielewicz, "Multispectral hand features for secure biometric authentication systems. Concurrency and Computation", Concurrency and Computation: Practice and Experience, 33(18), 2021, 6471.
Adrian Kordas, Ewelina Bartuzi-Trokielewicz, Michał Ołowski, Mateusz Trokielewicz, "Synthetic Iris Images: A Comparative Analysis between Cartesian and Polar Representation", Sensors, 24(7), 2024, 2269.